掃描NV探針顯微鏡

掃描NV探針顯微鏡SNVM

掃描NV探針顯微鏡SNVM（Scanning nitrogen-vacancy probe microscope，）是一款結合了金剛石氮-空位色心（Nitrogen-Vacancy, NV）光探測磁共振（Optically Detected Magnetic Resonance, ODMR）技術和原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）掃描成像技術的量子精密測量儀器，可實現對磁性樣品高空間分辨率、高靈敏度、定量無損的磁成像。

核心參數

應用領域

掃描NV探針顯微鏡用于BFO薄膜磁成像

多鐵性材料是一類具有多種鐵電和鐵磁性質的材料，在數據存儲、傳感器技術、自旋電子學、新型電子器件等領域具有廣泛的應用潛力。鐵酸鉍（BiFeO3）作為材料科學中的一個研究熱點，其反鐵磁性讓其磁疇的觀測變的不易。

掃描NV探針顯微鏡因具有較高的磁測量靈敏度，是一種能夠實現BFO實空間反鐵磁序測量的新手段，類似的研究可以擴展到其他相同體系，為自旋電子學的發展指明道路。

參考文獻：Nature 549, 252 (2017)

掃描NV探針顯微鏡用于給單個磁通渦旋雜散磁場成像

探究超導材料的微觀機制是現代凝聚態物理的核心課題之一，對于新型超導材料研究至關重要。超導磁通渦旋可反映出超導的基本參數，如相干長度、穿透深度以及超導能隙對稱性等。對磁通渦旋進行表征可為探究超導的微觀機理提供更多的實驗依據。

掃描NV探針顯微鏡能夠實現極低溫下高空間分辨、高靈敏、定量無損的磁通渦旋成像。

參考文獻：Nature Nanotech 11, 677(2016)

掃描NV探針顯微鏡用于扭曲雙層CrI3測量

二維磁性材料的發現對于自旋電子學的研究是一個新的方向，在自旋電子學器件方面有潛在應用價值。近年來實驗中發現了一批二維磁性材料，如CrI3、Fe3GeTe2等。因為二維磁性材料的磁場強度弱，轉變溫度低等特點，掃描NV探針顯微鏡具備的高靈敏度、高空間分辨率和環境兼容性，很好的滿足了這方面的測量需求。

參考文獻：Science 374，6571(2021)

測試案例

Global Developer & Manufacturer Of High-Precision Scientific Instruments

CIQTEK's high-precision instruments help scientists explore materials and physical properties at the microscopic level. 

ClQTEK meets the needs of its customers by providing customized products and complete application solutions in the areas of environmental science, biochemistry, chip semiconductors, and materials science, enabling customers to innovate and increase productivity.

The main business includes Scanning Electron Microscopes (SEMs), Electron Paramagnetic Resonance (Electron Spin Resonance) Spectroscopy, Scanning NV Probe Microscopes, and BET Surface Area & Pore Analyzers.

CIQTEK currently has over 700 employees, including 70% of the R&D team. A total of 12 application centers provide customers with sample testing, experimental comparison, performance evaluation, application direction development, and advanced training on product operation.